掃描電子顯微鏡(SEM)

Camfil的掃描電子顯微鏡(SEM)放置於瑞典特鲁薩的實驗室中,是我們致力於研究和開發的一個著名案例。這種獨特的工具使我們能夠研究和確認舊過濾器和空氣樣本中直徑小至50nm(=0.00005毫米)的污染物。顯微鏡用於解決用戶的問題,並提高質量控制能力,同時也研究和評估新的過濾介質。

Loading samples Free flying particles
Particles in filter

圖片從上至下、從左至右分別為

  1. 將樣本放入掃描電子顯微鏡(SEM)中。 
  2. 空氣樣本顯示汽車尾氣中最小的懸浮微粒
  3. SEM過濾器捕獲的微粒,在SEM中進行研究

 

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